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Sondes Atomiques Tomographiques

 

CAMECA LEAP® 5000 XR (upgrade du LEAP 4000 X HR via le projet GENESIS +)

CAMECA LEAP® 5000 XS (upgrade du LEAP 4000 HR via le projet SATUP)

Responsables : Ivan Blum et Auriane Etienne

Financements

Les 2 LEAP installés en 2015 à Rouen ont été financés par la Région Haute-Normandie dans le cadre de l'Appel à Projets Energie, la CREA (Métropole Rouen Normandie) et le labex EMC3.

 

Une mise à jour du LEAP 4000 XHR a eu lieu en 2022 dans le cadre du projet GENESIS+ et une mise à jour du LEAP 4000 HR a eu lieu en 2023 dans le cadre du projet SATUP. Les projets GENESIS+ et SATUP ont été cofinancés par l'Union européenne à travers le Fonds européens de Développement Régional et la Région Normandie. 

 

Caractéritiques techniques

Analyse de matériaux :

  • Conducteurs (métaux) avec des impulsions électriques

  • Semi-conducteurs ou isolants avec des impulsions laser

Laser UV :

  • Longueur d'ondes focalisé : 355 nm
  • Taille du faisceau : 3 µm

 

  Résolution en masse Résolution latérale Résolution en profondeur Fréquence d'acquisition Angle de détection Rendement de détection
LEAP 5000 XS 400 à 800 à mi-hauteur 0.2 à 1.1 nm < 0.1 nm 1 MHz ± 35° 80 %
LEAP 5000 XR 1000 à 1200 à mi-hauteur 0.4 à 1.1 nm < 0.1 nm 500 kHz   52 %