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Sondes Atomiques

LEAP 4000 X HR et LEAP 4000 HR (CAMECA)

Responsable scientifique : Auriane Etienne

 

Analyse de matériaux :

  • Conducteurs (métaux) avec des impulsions électriques
  • Semi-conducteurs ou isolants avec des impulsions laser (spécifique au LEAP 4 000 X HR)

Large champ de vision : >100nm

Laser UV (spécifique au LEAP 4000 X HR) :

  • Longueur d'onde focalisé : 355 nm
  • Taille du faisceau : 3µm

Résolutions en masse (sur Al++, à 50K) :

  • À mi-hauteur : 1000
  • À 10% :                475
  • À 1% :                  275

Fréquences :

  • De répétition des impulsions électriques :   200kHz
  • De répétition des impulsions laser : 250kHz (spécifique au LEAP 4 000 X HR)
  • D’acquisition maximale :   > 2.106 at./h 

Température minimum de l’échantillon : 25K

Rendement de détection : 35%

Seuil de détections : jusqu’à 10ppm

Rapport signal sur bruit : ~1/10000

Résolutions :

  • En profondeur : < 0,1nm
  • Latérale : 0,2-0,4nm