Sondes Atomiques
LEAP 4000 X HR et LEAP 4000 HR (CAMECA)
Responsable scientifique : Auriane Etienne
Analyse de matériaux :
- Conducteurs (métaux) avec des impulsions électriques
- Semi-conducteurs ou isolants avec des impulsions laser (spécifique au LEAP 4 000 X HR)
Large champ de vision : >100nm
Laser UV (spécifique au LEAP 4000 X HR) :
- Longueur d'onde focalisé : 355 nm
- Taille du faisceau : 3µm
Résolutions en masse (sur Al++, à 50K) :
- À mi-hauteur : 1000
- À 10% : 475
- À 1% : 275
Fréquences :
- De répétition des impulsions électriques : 200kHz
- De répétition des impulsions laser : 250kHz (spécifique au LEAP 4 000 X HR)
- D’acquisition maximale : > 2.106 at./h
Température minimum de l’échantillon : 25K
Rendement de détection : 35%
Seuil de détections : jusqu’à 10ppm
Rapport signal sur bruit : ~1/10000
Résolutions :
- En profondeur : < 0,1nm
- Latérale : 0,2-0,4nm
