Groupe d'Etudes et de Nanoanalyses des EffetS d'IrradiationS

Sondes Atomiques

LEAP 4000 X HR et LEAP 4000 HR (CAMECA)

Upgrade du LEAP 4000 X HR en 5 000 XR

(projet GENESIS +)

Responsable scientifique : Auriane Etienne

Analyse de matériaux :

• Conducteurs (métaux) avec des impulsions électriques

• Semi-conducteurs ou isolants avec des impulsions laser (spécifique au LEAP 4 000 X HR) ==> spécificité conservée lors de l'upgrade en 5 000 XR

Large champ de vision : >100nm

Laser UV (spécifique au LEAP 4000 X HR) :

• Longueur d'onde focalisé : 355 nm
• Taille du faisceau : 3µm

Résolutions en masse (sur Al⁺⁺, à 50K) :

• À mi-hauteur : 1 000 ==> 1 140 pour LEAP 5 000 XR
• À 10% :           475  ==>  530 pour LEAP 5 000 XR
• À 1% :             275  ==>  300 pour LEAP 5 000 XR

Fréquences :

• De répétition des impulsions électriques :   200kHz ==> 500kHz pour LEAP 5 000 XR
• De répétition des impulsions laser : 250kHz (spécifique au LEAP 4 000 X HR) ==> 500kHz pour LEAP 5 000 XR
• D’acquisition maximale :   > 2.10⁶ at./h ==> ~ 6.10⁶ at./h pour LEAP 5 000 XR

Température minimum de l’échantillon : 25K

Rendement de détection : 35% ==> ~ 50% pour LEAP 5 000 XR

Seuil de détections : jusqu’à 10ppm

Rapport signal sur bruit : ~1/10000

Résolutions :

• En profondeur : < 0,1nm
• Latérale : 0,2-0,4nm

Le projet GENESIS + est cofinancé par l'Union européenne à travers le Fonds européens de Développement Régional et la Région Normandie.