Sondes Atomiques Tomographiques
CAMECA LEAP® 5000 XR (upgrade du LEAP 4000 X HR via le projet GENESIS +)
CAMECA LEAP® 5000 XS (upgrade du LEAP 4000 HR via le projet SATUP)
Responsables : Ivan Blum et Auriane Etienne
Financements
Les 2 LEAP installés en 2015 à Rouen ont été financés par la Région Haute-Normandie et la CREA dans le cadre de l'Appel à Projets Energie.
Une mise à jour du LEAP 4000 XHR a eu lieu en 2022 dans le cadre du projet GENESIS+ et une mise à jour du LEAP 4000 HR a eu lieu en 2023 dans le cadre du projet SATUP. Les projets GENESIS+ et SATUP ont été cofinancés par l'Union européenne à travers le Fonds européens de Développement Régional et la Région Normandie.
Caractéritiques techniques
Analyse de matériaux :
-
Conducteurs (métaux) avec des impulsions électriques
-
Semi-conducteurs ou isolants avec des impulsions laser
Laser UV :
- Longueur d'ondes focalisé : 355 nm
- Taille du faisceau : 3 µm
| Résolution en masse | Résolution latérale | Résolution en profondeur | Fréquence d'acquisition | Angle de détection | Rendement de détection | |
| LEAP 5000 XS | 400 à 800 à mi-hauteur | 0.2 à 1.1 nm | < 0.1 nm | 1 MHz | ± 35° | 80 % |
| LEAP 5000 XR | 1000 à 1200 à mi-hauteur | 0.4 à 1.1 nm | < 0.1 nm | 500 kHz | 52 % |
