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Microscope Electronique en Transmission

ARM-200F (JEOL)

Responsable scientifique: Auriane Etienne

 

Source : à électrons Cold-FEG

Microscope double corrigé :

  • Correcteur sonde
  • Correcteur image

Tensions :

  • 120kV
  • 200kV

Pièce polaire : HR

Détecteurs :

  • HAADF/LAADF/BF
  • EDX SDD Centurio (angle solide 1sr)
  • GIF Quantum ER Gatan avec détecteurs BF/DF

Accessoires ::

  • Porte-objet simple tilt
  • Porte-objet double tilt analytique (inclinaison +/-35° et +/- 30°)
  • Porte-objet simple tilt rotation
  • Porte-objet cryogénique double tilt analytique
  • Porte-objet pour la traction in-situ
  • Porte-objet chauffant in-situ
  • Porte-objet pour la tomographie sur pointe
  • Station de pompage pour porte-objets
  • Ion cleaner