Microscope Electronique en Transmission
ARM-200F (JEOL)
Responsable technique : Auriane Etienne
Source : à électrons Cold-FEG
Microscope double corrigé :
- Correcteur sonde
- Correcteur image
Tensions :
- 120kV
- 200kV
Pièce polaire : HR
Détecteurs :
- HAADF/LAADF/BF
- EDX SDD Centurio (angle solide 1sr)
- GIF Quantum ER Gatan avec détecteurs BF/DF
Accessoires ::
- Porte-objet simple tilt
- Porte-objet double tilt analytique (inclinaison +/-35° et +/- 30°)
- Porte-objet simple tilt rotation
- Porte-objet cryogénique double tilt analytique
- Porte-objet pour la traction in-situ
- Porte-objet chauffant in-situ
- Porte-objet pour la tomographie sur pointe
- Station de pompage pour porte-objets
- Ion cleaner