Sondes Atomiques
LEAP 4000 X HR et LEAP 4000 HR (CAMECA)
Upgrade du LEAP 4000 X HR en 5 000 XR
(projet GENESIS +)
Responsable technique : Auriane Etienne
Analyse de matériaux :
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Conducteurs (métaux) avec des impulsions électriques
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Semi-conducteurs ou isolants avec des impulsions laser (spécifique au LEAP 4 000 X HR) ==> spécificité conservée lors de l'upgrade en 5 000 XR
Large champ de vision : >100nm
Laser UV (spécifique au LEAP 4000 X HR) :
- Longueur d'onde focalisé : 355 nm
- Taille du faisceau : 3µm
Résolutions en masse (sur Al++, à 50K) :
- À mi-hauteur : 1 000 ==> 1 140 pour LEAP 5 000 XR
- À 10% : 475 ==> 530 pour LEAP 5 000 XR
- À 1% : 275 ==> 300 pour LEAP 5 000 XR
Fréquences :
- De répétition des impulsions électriques : 200kHz ==> 500kHz pour LEAP 5 000 XR
- De répétition des impulsions laser : 250kHz (spécifique au LEAP 4 000 X HR) ==> 500kHz pour LEAP 5 000 XR
- D’acquisition maximale : > 2.106 at./h ==> ~ 6.106 at./h pour LEAP 5 000 XR
Température minimum de l’échantillon : 25K
Rendement de détection : 35% ==> ~ 50% pour LEAP 5 000 XR
Seuil de détections : jusqu’à 10ppm
Rapport signal sur bruit : ~1/10000
Résolutions :
- En profondeur : < 0,1nm
- Latérale : 0,2-0,4nm
Le projet GENESIS + est cofinancé par l'Union européenne à travers le Fonds européens de Développement Régional et la Région Normandie.