Skip to main content
  • en
  • fr
  • Sondes Atomiques Tomographiques

    CAMECA LEAP® 5000 XR

    upgrade du LEAP 4000 X HR via le projet GENESIS +

    CAMECA LEAP® 5000 XS

    upgrade du LEAP 4000 HR via le projet SATUP

     

    Responsables : Ivan Blum et Auriane Etienne

    Financements

    Les 2 LEAP installés en 2015 à Rouen ont été financés par la Région Haute-Normandie dans le cadre de l’Appel à Projets Energie, la CREA (Métropole Rouen Normandie) et le labex EMC3.

    Une mise à jour du LEAP 4000 XHR a eu lieu en 2022 dans le cadre du projet GENESIS+ et une mise à jour du LEAP 4000 HR a eu lieu en 2023 dans le cadre du projet SATUP. Les projets GENESIS+ et SATUP ont été cofinancés par l’Union européenne à travers le Fonds européens de Développement Régional et la Région Normandie.

    Caractéristiques techniques

    Analyse de matériaux :

    • Conducteurs (métaux) avec des impulsions électriques
    • Semi-conducteurs ou isolants avec des impulsions laser
    • Transfert cryo possible pour le LEAP 5000 XS

    Laser UV :

    • Longueur d’ondes focalisé : 355 nm
    • Taille du faisceau : 3 µm
    Résolution en masse Résolution latérale Résolution en profondeur Fréquence d’acquisition Angle de détection Rendement de détection LEAP 5000 XS 400 à 800 à mi-hauteur 0.2 à 1.1 nm < 0.1 nm 1 MHz ± 35° 80 % LEAP 5000 XR 1000 à 1200 à mi-hauteur 0.4 à 1.1 nm < 0.1 nm 500 kHz 52 %